报告问题 (Title)：二维器件的扫描探针研究

报告人 (Speaker)：薛加民 副教授（上
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报告时间 (Time)：2024年4月23日(周二) 14:00-16:00

报告所在 (Place)：校本部 G313

约请人 (Inviter)：张永平 教授

主理部分：理学院物理系

摘要 (Abstract)：

基于二维质料的器件迩来获得了普遍的关注。。种种二维电子学和光电子器件、异质结器件等，，，，，展示出了富厚的功效。。另一方面，，，，，通过准确控制两个单层二维质料之间的转角，，，，，人们也实现了诸如超导态、铁电态等奇异的物性。。而这些功效和物性都是由器件的微观电子结构所决议的，，，，，对其举行丈量是明确它们宏观性子的主要依据。。本次报告将先容我们近期在该领域所做的一些事情。。主要包括使用新型接触式扫描隧道能谱要领对二维半导体器件能带结构的原位丈量，，，，，以及使用古板扫描探针要领对二维转角系统电子结构的丈量。。